本文標(biāo)題：" 金屬線的尺寸較小并且有較大的縱橫比-金屬分析顯微鏡"
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金屬線的尺寸較小并且有較大的縱橫比-金屬分析顯微鏡
有人提出，用串狀鎳結(jié)構(gòu)充當(dāng)導(dǎo)電填料，并用環(huán)氧樹脂作為溶劑涂在基板
上，然后將顆粒垂直安置在基板表面，通過蒸發(fā)溶劑使顆粒與樹脂混合。實(shí)驗(yàn)
采用305m集成電路芯片和玻璃基板(Au凸塊的面積為2000μm²，并且凸塊間距
為105m)。實(shí)驗(yàn)證實(shí)，在高溫、高濕和熱循環(huán)測試條件下(-40一85°C)，新的
ACF表現(xiàn)出良好的導(dǎo)電穩(wěn)定性。同時(shí)，也在高溫和高濕度下做了絕緣測試。盡管
兩極的距離只有105m，金屬離子并不會(huì)產(chǎn)生遷移，并且在500h內(nèi)兩極間電阻可持
續(xù)維持在1Gfl。這個(gè)結(jié)果表明，新的ACF具有更穩(wěn)定的絕緣性。這也表明，在小
間距精確連接中，它有很大的應(yīng)用潛力。
為了適應(yīng)No的小接口縫隙，并防止短路，可以采用較大縱橫比的柱形金屬材
料。由于納米級(jí)金屬線的尺寸較小并且有較大的縱橫比，它有較高的穩(wěn)定性。
納米級(jí)金屬線可以用作氣體偵查、磁盤、電器靈敏元件中
的納米電極和熱電控制裝置等。為制作納米金屬線，了解納米結(jié)構(gòu)至關(guān)重要。雖然
采用過許多花費(fèi)很多的方法，如電子束、x射線和掃描測試等，但是對微米尺度的
納米金屬線結(jié)構(gòu)的探知進(jìn)展緩慢。另外一種較便宜的方法，是在微孔基板(如陽
極鋁的氧化物(從。)或者聚合物基板〔，，])進(jìn)行金屬電鍍。但是較大尺寸聚合
物的厚度較薄(意味著納米金屬線的長度很短)，分布不均勻和并且微孔不一致。
然而，AAO)卻有著厚度大(> 105m)、微孔尺寸和密度的一致性、大尺寸微孔等
優(yōu)點(diǎn)。Linet等人〔601用納米級(jí)金屬線對ACF進(jìn)行了改進(jìn)。他們用電鍍的方法，通過
AAO基板獲得銀和鉆的納米級(jí)金屬線的排列。經(jīng)過表面處理后，低密度的PI擴(kuò)散
并能填充于納米金屬線排列的縫隙中。A歲Co雙金屬的納米金屬線排列，會(huì)在Co
和磁場之間產(chǎn)生的磁相互作用力下保持平行。
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