本文標題："可以對工件進行立體測量的多功能顯微鏡"
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可以對工件進行立體測量的多功能顯微鏡
由于全息干涉組織圖十分細小，所以顯影后的全息圖在外觀
上與均勻照射的照像底版沒有區(qū)別。在全息圖上常常可見到的環(huán)
狀紋和條紋，這是由于光衍射在落有灰塵的反射鏡和物鏡上造成
的。為了避免干擾，要在光路上裝濾光器(帶有0．03—0．5毫米
孔的遮光板)。
將物體去掉，而把全息圖裝在原來拍攝時的位置上， 以便
重現(xiàn)光波。若為此目的接通激光， 觀察全息圖時，如同通過玻
璃窗一樣，在其原來的位置上就能看到物象，好象物體本身未被
拿掉一樣。改變頭部的位置，我們可以見到位移視差效應，所見
到的物體與真實物體一樣逼真。我們必須從不同的位置調節(jié)眼睛
，看它近的和遠的部分。如果我們想拍攝所見到的物體，只需要
和普通照像一樣，選擇可以保證足夠景深的光圈就行了。
利用干涉測量法進行立體測量，叫做全息照像干涉測量技術
。我們來探討一下它的實質。
如果把全息圖放在它詠來曝光的地方，而將物體拿走，則曝
光時由物體散射的光波可以再現(xiàn)。如果不拿走物體?那么可以看
到兩個光波：一個是由物體直接散射的，另一個是全息圖再現(xiàn)的
。這些光波發(fā)生相干而且可能干涉。如果在攝取全息圖和觀察物
體之間的間隔時間內，發(fā)生了某些變化，例如發(fā)生了變形，它立
刻就反映到被觀察的圖象—物象上，顯示出分裂的干涉條紋。這
樣，就可以使不同時間形成的兩個光波互相干擾。
全息照像干涉測量技術，可以研究任何形狀和任何光學性質
的物體。因為標準的光波是由被研究物體本身在原始狀態(tài)造成的
：而干涉圖象是由那些和物體一起發(fā)生的幾何形狀變化和相位變
化所決定的。
如果在記錄全息圖之后，物體表面沒有發(fā)生顯著的變化，則
可以見到那些相當于物體在空間位置變化的正規(guī)干涉圖象。這些
變化是與物體一起發(fā)生的。如果物體表面形狀有顯著的變化
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