本文標題："電子微探儀分析(EPMA)/SEM電子顯微鏡"
發布者：yiyi ------ 分類: 行業動態 ------
人瀏覽過-----時間：2013-4-10 0:30:35
電子微探儀分析(EPMA)/SEM電子顯微鏡
試片的準備方法與一般金相試片相同，但必須能導電。
使用電子微探儀進行顯微組織結構的觀察，針對各種不同的介金屬化合物所含元素做定量的成分分析與 X 光映像，定
量分析的試片不做浸蝕的處理，以減少分析上的誤差
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