本文標(biāo)題："把器件置于模擬失效條件用金相顯微鏡觀察測(cè)試質(zhì)量"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過-----時(shí)間：2015-9-26 4:34:13
把器件置于模擬失效條件用金相顯微鏡觀察測(cè)試質(zhì)量
忽好忽壞現(xiàn)象的處理 有些應(yīng)力試驗(yàn)或現(xiàn)場(chǎng)淘汰的器件的失效現(xiàn)象
是忽好忽壞，對(duì)此現(xiàn)象進(jìn)行以下分析：
(1)應(yīng)力分析 把器件置于模擬失效條件下進(jìn)行測(cè)試，或裝在
系統(tǒng)上工作，看其是否正常。改變電源、頻率、負(fù)載等條件，觀察
變化情況。看是否因不適當(dāng)?shù)氖褂靡鸷龊煤鰤摹?/div>
(2)溫度循環(huán) 在規(guī)定的溫度范圍內(nèi)觀察是否出現(xiàn)失效現(xiàn)象。
(3)振動(dòng) 振動(dòng)試驗(yàn)可能再現(xiàn)忽好忽壞現(xiàn)象。一般采用30—60
夕做肋次振動(dòng)循環(huán)。
(4)鏡檢 得到所有電學(xué)數(shù)據(jù)后打開管殼鏡檢內(nèi)部和用電探針
測(cè)試。檢查內(nèi)部失效的現(xiàn)象。
(5)
有時(shí)通過分析找到原因，常常是得不出結(jié)論；有待進(jìn)一步研究+如
果在整個(gè)分析過程中沒有再現(xiàn)忽好忽壞現(xiàn)象，有可能原來的結(jié)論是
錯(cuò)誤的。
分析程序和以上的舉例都是只用普通的光學(xué)顯微鏡及測(cè)試設(shè)備的情
況，深入的失效分析工作只用這些手段是不夠的。
理化分析
先進(jìn)的分析設(shè)備已成為失效分析中不可缺少的手段。借助于這
些設(shè)備弄清了一些失效機(jī)理。如金—鋁系統(tǒng)的問題，電遷移及鋁膜
通過氧化層臺(tái)階斷裂等，還有一些機(jī)理尚待弄清，
如二次擊穿的機(jī)理等。下面介紹一些常用的理化分析技術(shù)。
后一篇文章：硫化物形成與氧化物夾雜物的析出很相似-金相分析軟件 »
前一篇文章：« 模板造型分普通模板造型和標(biāo)準(zhǔn)模板造型兩種
tags:材料學(xué),技術(shù),制造,光學(xué),金相顯微鏡,上海精密儀器,
把器件置于模擬失效條件用金相顯微鏡觀察測(cè)試質(zhì)量,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
本頁地址：/gxnews/2883.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/